Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 7: Atomare Fehlstellen

M 7.5: Vortrag

Dienstag, 28. März 2000, 11:45–12:00, H6

Messung von Strahlenschädigungsprofilen mit einer Positronenmikrosonde — •U. Männig, M. Haaks, C. Zamponi und K. Maier — Institut für Strahlen- und Kernphysik der Uni Bonn, Nußallee 14-16, 53115 Bonn

Mittels ortsauflösender Positronenvernichtung wurde die laterale Aufstreuung von Bestrahlungsprofilen untersucht.

An der Leipziger Ionen-Nanosonde wurden Molybdän-Folien unterschiedlicher Dicke auf einer Fläche von 10× 80 µm mit 2,25 MeV Protonen bestrahlt. Mit der Bonner Positronenmikrosonde wurden Messungen mit einem Strahldurchmesser von 12 µm quer zur Richtung des bestrahlten Streifens durchgeführt. Es wurden jeweils die Protonenstrahleintritts- und -austrittsseite für unterschiedlich dicke Poben gemessen und die erhaltenen lateralen Defektprofile verglichen. Erstaunlicherweise sind diese Profile im Rahmen der Meßgenauigkeit fast über die gesamte Eindringtiefe der Protonen konstant. Erst im Bereich ihrer maximalen Eindringtiefe nimmt die Breite der Defektverteilung ab und der Positronen-Meßparameter steigt an, was auf eine steigende Defektkonzentration hinweist.

Ähnliche Ergebnisse ergaben sich bei der Bestrahlung einer Quarzglas-Probe mit 56 MeV Alpha-Teilchen durch einen 100 µm breiten Kollimator. Durch die Bestrahlung ändert sich die Dichte und der Brechungsindex des SiO₂-Streifens. Dies ist wegen der verminderten Positroniumsbildung gut mit Positronenannihilation aber auch mit optischer Polarisationsmikroskopie nachzuweisen. Es wurden Messungen quer zum bestrahlten Streifen in verschiedenen Tiefen durchgeführt.