Regensburg 2000 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 10: Rastersondentechniken (I)

O 10.8: Talk

Monday, March 27, 2000, 18:00–18:15, H44

Eine topografiefreie Testprobe mit hohem optischen Kontrast für die optische Nahfeldmikroskopie — •T. Kalkbrenner, M. Graf, J. Mlynek und V. Sandoghdar — Universität Konstanz, Fachbereich Physik, Fach M696, 78457 Konstanz

Das Problem des Übersprechens zwischen optischem Signal und Topografieinformation bei der optischen Nahfeldmikroskopie wird seit langem diskutiert. Dieses Übersprechen äußert sich in topografieinduzierten Artefakten im optischen Bild, die die Auflösungsbestimmung einer Nahfeldsonde erschweren. Wir stellen das Herstellungsverfahren für eine Testprobe vor, die einen hohen optischen Kontrast aufweist, aber keine mit diesem Kontrast korrelierte Topografie [1]. Metallische Nanostrukturen definierter Geometrie werden auf einem glatten Ausgangssubstrat erzeugt und in ein transparentes Polymer eingebettet. Durch Ablösen und Umdrehen dieses Verbunds wird die glatte Oberfläche des Trägersubstrates reproduziert. Die Probe kann sowohl in Transmission als auch in Reflexion eingesetzt werden und eignet sich auch für Nahfeldmikroskope mit Tunnelstrom-Abstandsregelung. Damit kann die echte optische Auflösung einer beliebigen Nahfeldsonde reproduzierbar bestimmt werden. Wir präsentieren SNOM-Messungen an den hergestellten Proben, die den hohen optischen Kontrast und die flache Probenoberfläche demonstrieren [2].

[1] Patent angemeldet unter Nr. DE 19927836.9

[2] T. Kalkbrenner, M.Graf, C. Durkan, J. Mlynek, V. Sandoghdar, Submitted to Appl. Phys. Lett.