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O: Oberflächenphysik

O 10: Rastersondentechniken (I)

Monday, March 27, 2000, 16:15–19:00, H44

16:15 O 10.1 Neues Tieftemperatur-STM für in situ-Wachstumsexperimente — •Guido Piaszenski, Andreas Lange und Ulrich Köhler
16:30 O 10.2 Single molecule identification with Inelastic STS. — •J.I. Pascual, J. Jackiw, H. Conrad, and H.-P. Rust
16:45 O 10.3 Untersuchung des Tunnelstromrauschens unter Normalbedingungen — •Markus Lackinger, Falk Müller, Frank Demming, Anne-D. Müller und Michael Hietschold
17:00 O 10.4 Realisierung eines zeitaufgelösten Rastertunnelmikroskops — •C. Janke, L. Tian, M. Nagel, T. Dekorsy, H. Kurz, R. Hey und K. Ploog
17:15 O 10.5 Submolekulare Auflösung der RTM-induzierten Lichtemission von HBDC auf Metalloberflächen — •G. Hoffmann, L. Libioulle, J. K. Gimzewski und R. Berndt
17:30 O 10.6 Propagation of femtosecond light pulses through aperture probes in near-field optical microscopy — •Andreas Pack, Michael Hietschold, and Reinhold Wannemacher
17:45 O 10.7 Nahfeldoptische Messungen mit mikrostrukturierten Apertursonden — •Matthias Wellhöfer, N. Kerwien, E. Oesterschulze, R. Kassing, T. Leinhos, A. Vollkopf, O. Marti und O. Hollricher
18:00 O 10.8 Eine topografiefreie Testprobe mit hohem optischen Kontrast für die optische Nahfeldmikroskopie — •T. Kalkbrenner, M. Graf, J. Mlynek und V. Sandoghdar
18:15 O 10.9 Optische Nahfeldmikroskopie mit nanoskopischen Metallteilchen als Sonden — •Marcus Ramstein, Thomas Kalkbrenner, Vahid Sandoghdar und Jürgen Mlynek
18:30 O 10.10 Vibrationskontrast durch Infrarot-Nahfeldmikroskopie — •Bernhard Knoll und Fritz Keilmann
18:45 O 10.11 Lineare und nichtlineare magneto-optische Nahfeldmikroskopie — •D. Wegner, G. Meyer, U. Conrad, J. Güdde, T. Crecelius und A. Bauer
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