Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 11: Postersession (Eröffnung)

O 11.134: Poster

Montag, 27. März 2000, 19:00–22:00, Bereich C

Methode zur direkten Messung der Oberflächenspannung reiner Festkörperoberflächen — •S. Kaiser, A. Grossmann und C. Zimmermann — Physikalisches Institut, Universität Tübingen, Auf der Morgenstelle 14, D-72076 Tübingen

Bisherige Experimente zur Oberflächenspannung von Festkörpern konzentrieren sich auf die Messung von Änderungen der Oberflächenspannung, wie sie bei Adsorption oder Epitaxie auftreten. Dabei wird experimentell die Krümmung von dünnen Kristallen ermittelt. Eine Messung der absoluten Spannung reiner Oberflächen ist dagegen schwierig, aber prinzipiell möglich [1]. Dieser theoretische Ansatz verwendet die Deformation des dünnen Einkristalls unter dem Einfluß der Schwerkraft.

Eine genaue Messung dieser Verformung erfordert eine sehr hohe achsiale Auflösung. Ein Fizeau-Interferometer mit Phasenschiebung ermöglicht zum einen diese hohe achsiale Auflösung und liefert andererseits eine große Menge an Datenpunkten, die ein genaues Anpassen der Oberfläche und daraus eine Berechnung der absoluten Oberflächenspannung erlauben. Damit ist die experimentelle Bestimmung der Anisotropie der Oberflächenspannung in einer einzigen Messung möglich.

[1] P. Müller, R. Kern, Surf. Sci. 301, 386 (1994)