Regensburg 2000 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 11: Postersession (Eröffnung)

O 11.137: Poster

Monday, March 27, 2000, 19:00–22:00, Bereich C

Bestimmung der von Oberflächenparametern mit Hilfe der Wavelet Analyse — •Joern Kutscher, Sybille Frank, Sabine Hild und Othmar Marti — Abteilung Experimentelle Physik, Universität Ulm, 89069 Ulm

Die Beschreibung von Oberflächenparametern auf kleinsten Skalen ist von entscheidener Bedeutung bei der Entwicklung und Verbesserung technischer Bauteile.

Hierunter fallen nicht nur miniaturisierte Nanobauteile, sondern auch Oberflächen die im Kontakt mit biologischem Gewebe stehen.

Die Waveletanalyse mit der Eigenschaft ein Mehrfachauflösungssystem bereitzustellen, ermöglich es 2-dimensionale Charackterisierungen auf verschiedenen Auflösungsskalen zu berechnen.

Das Waveletsystem stellt Funktionen und Signale in orthogonalen Räumen mit unterschiedlicher Detailauflösung dar. Damit können Oberflächen lokal auf verschiedenen Skalen parametrisiert werden.

Man erhält mit dieser Methode eine intuitive physikalische Vorstellung der untersuchten Oberfläche. Ein Vorteil dieser Methode ist, daß die berechneten Wavelet Parameter mit den genormten Rauhigkeitsparametern direkt vergleichbar sind.