Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 11: Postersession (Eröffnung)

O 11.81: Poster

Montag, 27. März 2000, 19:00–22:00, Bereich C

Analyse der Spitze-Probe-Wechselwirkung im Dynamischen Modus der Rasterkraftmikroskopie — •Wolf Allers, Hendrik Hölscher, Alexander Schwarz, Udo Schwarz und Roland Wiesendanger — Institut für Angewandte Physik, Jungiusstraße 11, 20355 Hamburg

Die Begriffe Nicht-Kontakt Modus (NK) und Dynamischer Modus (DM) in der Rasterkraftmikroskopie (RKM) werden üblicherweise als Synonyme verwendet. Dies zeigt, dass in den meisten Fällen eine berührungsfreie Abbildung der Oberfläche mittels DM-RKM angenommen wird. Wo der NK-Bereich tatsächlich endet und der Kontakt beginnt, ist jedoch bisher nicht hinlänglich beantwortet worden. Zur Lösung dieses Problems haben wir unlängst eine Methode entwickelt, mit der das Wechselwirkungs-Potential bzw. die Kraft direkt aus der Messung der Resonanzfrequenz des Federbalkens berechnet werden kann [1]. Von diesen Messungen können wir durch Vergleich mit einer Modellwechselwirkung nicht nur Informationen über die attraktive Wechselwirkung und die Kontaktgrenze erhalten, sondern auch über schwache repulsive Kräfte mit elastischer Deformation. In unserem Beitrag werden wir eine Analyse solcher Messungen vorstellen, und insbesondere zeigen, dass in den meisten Fällen, in denen die Oberfläche elastisch deformiert wird, die Daten mittels des „Hertz plus Offset-Modells“ angenähert werden können.

[1] H. Hölscher, W. Allers, U. D. Schwarz, A. Schwarz, and R. Wiesendanger, Phys. Rev. Lett. 83 (1999)