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O: Oberflächenphysik

O 11: Postersession (Eröffnung)

O 11.84: Poster

Montag, 27. März 2000, 19:00–22:00, Bereich C

Atomsondenuntersuchungen an durch Aufdampfschichten modifizierten STM-Spitzen — •Alexander Fian und Manfred Leisch — Institut für Festkörperphysik, TU-Graz, Petersgasse 16, A-8010 Graz

STM Untersuchungen an Legierungen z.B. an Zweistoffsystemen wie PtNi oder PtRh zeigen neben der atomaren Auflösung auch chemischen Kontrast [1]. Der chemische Kontrast wird dabei auch stark vom Zustand der Spitzenoberfläche (bestimmte Adatome) beeinflusst. Ab initio Berechnungen der Elektronenzustandsdichten können diesen Sachverhalt erklären und stellen eine Hilfe bei der Interpretation von STM-Legierunsabbildungen dar. Das Feldionenmikroskop (FIM) in Kombination mit der ortsauflösenden Atomsonde (FIM mit Flugzeitmassenspektrometer) erlaubt es, eine STM-Spitze sowohl atomar aufgelöst abzubilden, als auch auf ihre chemische Zusammensetzung hin zu untersuchen und bietet einen experimentellen Zugang zu dieser Problemstellung. Mittels Elektronenstrahlverdampfer werden gezielt Metallatome auf der STM-Spitze (aus W) aufgebracht. Nach Transfer dieser Spitze in das angeflanschte UHV-STM kann der Kontrastunterschied, der mit dieser modifizierten Spitze erzielt wird, untersucht werden. Anschliessend ist die Spitze, die zuvor im STM verwendet worden ist, in der Atomsonde wieder bezüglich Spitzenform und lokaler Position der Adatome untersucht worden. In ersten Experimenten sind die Unterschiede im Bildkontrast zwischen reinen und mit Platin beschichteten Wolframspitzen untersucht worden. [1] Varga P.; Schmid M., Appl. Surface Sci. 141, 3-4 (1999) 287-93 (Arbeit gefördert vom FWF, Projekt P12099 )