O 15: Elektronische Struktur (I)
Dienstag, 28. März 2000, 11:15–12:45, H37
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11:15 |
O 15.1 |
Conducting Polypyrrole doped with Phthalocyaninesulfonates - new materials for chemical sensors — •Ricardo Mikalo, Günter Appel, Patrick Hoffmann, and Dieter Schmeißer
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11:30 |
O 15.2 |
Röntgenemissionsuntersuchungen zur elektronischen Struktur von Be-Verbindungen — •R. Fink, D. Eich, A. Fleszar, C. Heske, U. Groh, M. Keim, G. Reuscher, A. Waag und E. Umbach
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11:45 |
O 15.3 |
Molecular Resonances in the Photoionization Cross Section (PIX) of Oxidic Semiconductors — •Thomas Heller, Oliver Böhme, and Dieter Schmeißer
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12:00 |
O 15.4 |
Untersuchungen zur elektronischen und geometrischen Struktur von As auf Si(111) mit einem Elliptischen Spiegel Analysator* — •T. Dütemeyer, C. Quitmann, M. Kitz, M. Gari, L.S.O. Johansson und B. Reihl
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12:15 |
O 15.5 |
Temperaturabhängige UPS-Messungen an Si(111) — •Ch. Bromberger, M. Koch, H. Kleine und D. Fick
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12:30 |
O 15.6 |
Kernspinrelaxationsmessungen: Eine hochauflösende Methode der elektronischen Spektroskopie?† — •Chr. Weindel, H.J. Jänsch, G. Kirchner, O. Kühlert, R. Platzer, R. Schillinger, H. Winnefeld und D. Fick
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