Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 16: Rastersondentechniken (II)

O 16.2: Vortrag

Dienstag, 28. März 2000, 11:30–11:45, H44

Abbildung interner Strukturen der Schreibmarken optischer Disks mit dem Depolarisations-SNOM — •M. Leuschner, M. Schüttler und H. Giessen — Fachbereich Physik und Wissenschaftliches Zentrum für Materialwissenschaften, Philipps-Universität Marburg, Renthof 5, 35032 Marburg

Bei einer beschreibbaren Compact Disk (CD-R) werden die Daten in Form von Schreibmarken in einer Farbstoffschicht, die sich auf einem strukturierten Substrat befindet, gespeichert. Diese Marken sind 0,8 µ m breit und 0,8 µ m bis 3,5 µ m lang. Die optische Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) erlaubt eine direkte Abbildung der Marken und ihrer internen Struktur. Wir untersuchen die Oberfläche der aktiven Schicht einer CD-R mit einem SNOM im Depolarisation-Modus [1,2]. Bei geeigneter Wahl der Polarisation sind die Schreibmarken und ihre interne Struktur deutlich sichtbar. Die internen Strukturen werden mit einer Auflösung von 200 nm abgebildet [3].

[1] G. von Freymann, Th. Schimmel, M. Wegener, B. Hanewinkel, A. Knor und S. W. Koch, Appl. Phys. Lett. 73(9), 1170 (1998)

[2] Ch. Adelmann, J. Hetzler, G. Scheiber, Th. Schimmel, M. Wegener, H. B. Weber, H. v. Löhneysen, Appl. Phys. Lett. 74(4), 179 (1999)

[3] M. Schüttler, M. Leuschner, and H. Giessen, Jpn. J. Appl. Phys., in press (1999)