O 16: Rastersondentechniken (II)
Dienstag, 28. März 2000, 11:15–13:00, H44
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11:15 |
O 16.1 |
Neue Methode zur Herstellung von Nahfeldsonden mit hoher Transmission — •Thomas Held, Stephanie Emonin, Olaf Hollricher und Othmar Marti
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11:30 |
O 16.2 |
Abbildung interner Strukturen der Schreibmarken optischer Disks mit dem Depolarisations-SNOM — •M. Leuschner, M. Schüttler und H. Giessen
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11:45 |
O 16.3 |
Aufbau eines Prototyps für die Massenspeicherung basierend auf Rastersondenverfahren — •J. Isenbart, A. Born und R. Wiesendanger
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12:00 |
O 16.4 |
Simulationen zur Rasterkapazitätsmikroskopie — •O. Krause, A. Born und R. Wiesendanger
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12:15 |
O 16.5 |
Quantitative Rasterkapazitätsmikroskopie für die Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen — •A. Born, O. Krause, J. Isenbart und R. Wiesendanger
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12:30 |
O 16.6 |
Dotierprofilanalyse von Halbleitermikrostrukturen mittels Scanning Spreading Resistance Microscopy — •V. Hagen, A. Born, J. Isenbart, and R. Wiesendanger
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12:45 |
O 16.7 |
Untersuchung von ligandenstabilisierten Metallclustern mittels SPM — •C. Bartsch, A. Born und R. Wiesendanger
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