Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 24: Rastersondentechniken (III)

O 24.14: Vortrag

Mittwoch, 29. März 2000, 17:45–18:00, H44

Kohlenstoffnanotubes als Sensoren für die > Rasterkraftmikroskopie — •Viola Barwich, Alexis Baratoff, Martin Bammerlin, Roland Bennewitz, Martin Guggisberg, Christian Loppacher, Oliver Pfeiffer, Ernst Meyer und Hans-Joachim Güntherodt — Institut für Physik, Klingelbergstr. 82, 4056 Basel, > Schweiz

> > Aufgrund ihrer aussergewöhnlichen mechanischen und geometrischen > Eigenschaften sind Kohlenstoffnanotubes, die an herkömmliche > Silizumsensoren angehängt werden, sehr gut als Sensoren für die > Rasterkraftmikroskopie geeignet. Ihr kleiner Krümmungsradius und ihre > längliche Geometrie reduzieren die elektrostatischen und van der Waals > Kräfte zwischen Spitze und Probe. > > Um optimale geometrische Parameter für eine gutauflösende Abbildung zu > erhalten, wird die angehängte Nanotube mit Hilfe eines > Rasterkraftmikroskops gekürzt, indem eine Spannung zwischen > Nanotubesensor und Probe angelegt wird. > > Frequenz vs. Distanz -Kurven wurden in Bezug auf die Wechelwirkung > zwischen Nanotubesensor und Probe analysiert. Es stellte sich heraus, > dass die van der Waals Kräfte des Nanotubesensors geringer sind als > die von herkömmlichen Siliziumsensoren. > > Es wurden mehrere Oberflächen mit diesen Nanotubesensoren im > dynamischen nicht-Kontakt Modus abgebildet. > > > >