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O: Oberflächenphysik

O 24: Rastersondentechniken (III)

O 24.3: Vortrag

Mittwoch, 29. März 2000, 15:00–15:15, H44

Simulation und Analyse von NC-AFM Bildern: Abbildung der A- und B-Atome der Graphit(0001)-Oberfläche — •H. Hölscher, W. Allers, U. D. Schwarz, A. Schwarz und R. Wiesendanger — Institut für Angewandte Physik, Universität Hamburg, Jungiusstr. 11, D-20355 Hamburg

Seit einigen Jahren ist es möglich, mit dem sogenannten „Nichtkontaktmodus“ des Rasterkraftmikroskops (engl. non-contact atomic force microscope, NC-AFM) echte atomare Auflösung auf verschiedenen Probenoberflächen zu erzielen. Um das Auflösungsvermögen dieses Messmodus genauer zu untersuchen, haben wir ein Modell zur Berechnung von NC-AFM Bildern entwickelt und simulieren so experimentelle Daten der Graphit(0001)-Oberfläche [1]. Diese Probe ist nicht nur aufgrund ihrer spezifischen Struktur besonders interessant; an ihr läßt sich das Auflösungsvermögen des Rasterkraftmikroskops auch sehr gut mit dem eines Rastertunnelmikroskops vergleichen.

Als Resultat der Simulationen erhält man eine sehr gute Übereinstimmung zwischen Experiment und Theorie, da alle wesentlichen Merkmale der experimentellen Daten wie die trigonale Struktur der Maxima mit einem Abstand von 2.46 Å und die experimentellen Korrugationsamplituden richtig berechnet werden. Weiterhin finden wir, daß die A- und B-Atome als Minima und die sogenanten „Hollow-sites“ als Maxima abgebildet werden.

[1] W. Allers, A. Schwarz, U. D. Schwarz und R. Wiesendanger, Appl. Surf. Sci. 140, 247 (1999)