Regensburg 2000 – scientific programme
Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help
O: Oberflächenphysik
O 24: Rastersondentechniken (III)
O 24.8: Talk
Wednesday, March 29, 2000, 16:15–16:30, H44
Akustische Rasterkraftmikroskopie nicht-kolinear propagierender akustischer Oberflächenwellen — •G. Behme1, T. Hesjedal2 und H.-J. Fröhlich1 — 1Paul Drude Institut für Festkörperelektronik, Hausvogteiplatz 5-7, D-10117 Berlin — 2Solid State and Photonics Lab., Stanford University, Stanford, CA 94035, USA
Akustische Rasterkraftmikroskopie (SAFM) ist eine leistungsfähige Technik zur Vermessung von Eigenschaften akustischer Oberflächenwellen (SAW) auf mikroskopischen Skalen. Die hochfrequenten Oberflächenoszillationen der SAWs werden dabei durch eine mechanische Mischung an der nichtlinearen Kennline der Wechselwirkung zwischen einer AFM Spitze und der Probenoberfläche in niedrigfrequente Schwingungen des Cantilevers umgesetzt. Damit werden Parameter wie Amplitude und insbesondere Phasengeschwindigkeit der Welle zugänglich.
Bisher wurde diese Technik nur für kolinear propagierende Wellen eingesetzt, womit einige Nachteile, insbesondere das Problem von Rückreflexionen am gegenüberliegenden Wandler verbunden sind. Weiterhin ist dadurch jeweils nur ein Wellentyp zugänglich. Beide Probleme werden durch die Verwendung einer nicht-kolinearen Geometrie überwunden. Dies wird am Beispiel der Mischung von Rayleigh- und Love-Welle auf dem Schichtsystem Metall/SiO2/ST-Quarz demonstriert, wobei zwei SAW-Geschwindigkeiten simultan innerhalb eines mikroskopischen Gebiets bestimmt werden können. Desweiteren erlaubt diese Technik die lokale Untersuchung elementarer Wellenphänomene wie Streuung und Anregung von SAWs.