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14:30 |
O 24.1 |
AFM Experimente im Ultra-Hoch-Vakuum bei Variablen Temperaturen — •Peter Güthner, Albrecht Feltz und Thomas Berghaus
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14:45 |
O 24.2 |
Rasterkraftmikroskopie im Vakuum mit atomarer Auflösung — •F.J. Giessibl, H. Bielefeldt, S. Hembacher, U. Mair und J. Mannhart
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15:00 |
O 24.3 |
Simulation und Analyse von NC-AFM Bildern: Abbildung der A- und B-Atome der Graphit(0001)-Oberfläche — •H. Hölscher, W. Allers, U. D. Schwarz, A. Schwarz und R. Wiesendanger
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15:15 |
O 24.4 |
Die Rolle der dangling bonds bei atomarer Auflösung im dynamischen Modus der Rasterkraftmikroskopie — •A. Schwarz, W. Allers, U. D. Schwarz und R. Wiesendanger
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15:30 |
O 24.5 |
Ultrasonic cantilever vibrations in tapping-mode atomic force microscopy: Fourier transformed force microscopy — •Robert W. Stark and Wolfgang M. Heckl
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15:45 |
O 24.6 |
Höhere Schwingungsmoden rechteckiger Federbalken in der dynamischen Kraftmikroskopie — •Pfeiffer Oliver, Loppacher Christian, Christian Wattinger, Martin Bammerlin, Urs Gysin, Roland Benenwitz, Ernst Meyer und H.-J. Günterodt
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16:00 |
O 24.7 |
Tiefere Einsichten in TappingModeTM Rasterkraftmikroskopie — •A. Knoll, R. Magerle und G. Krausch
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16:15 |
O 24.8 |
Akustische Rasterkraftmikroskopie nicht-kolinear propagierender akustischer Oberflächenwellen — •G. Behme, T. Hesjedal und H.-J. Fröhlich
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16:30 |
O 24.9 |
Nanotribologie verschieden präparierter Silizium-Oberflächen — •A. Opitz, M. Scherge und J. A. Schaefer
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16:45 |
O 24.10 |
Geschwindigkeitsabhängigkeit der atomaren Reibung — •Roland Bennewitz, Enrico Gnecco, Tibor Gyalog, Christian Loppacher, Martin Guggisberg, Martin Bammerlin, Ernst Meyer und Hans-Joachim Güntherodt
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17:00 |
O 24.11 |
Molekular-Dynamik-Simulationen zur Reibung auf der Nanometerskala — •Ludger Wenning und Martin H. Müser
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17:15 |
O 24.12 |
Decomposition of atomic force microscopy images using the scaling index method for the investigation of DNA strands — •Ferdinand Jamitzky, Robert Stark, Gregor Morfill, and Wolfgang Heckl
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17:30 |
O 24.13 |
Abhängigkeit der Abrißkraft von AFM-Cantilevern auf Silizium von Temperatur und relativer Luftfeuchte — •Peter Spizig, Joachim Koenen und Othmar Marti
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17:45 |
O 24.14 |
Kohlenstoffnanotubes als Sensoren für die > Rasterkraftmikroskopie — •Viola Barwich, Alexis Baratoff, Martin Bammerlin, Roland Bennewitz, Martin Guggisberg, Christian Loppacher, Oliver Pfeiffer, Ernst Meyer und Hans-Joachim Güntherodt
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18:00 |
O 24.15 |
AFM-Untersuchungen an kohlenstofffaserverstärkten Kohlenstoffen: Von der Einzelfaser bis zum infiltrierten Filz — •A. Pfrang, I. Yalman und Th. Schimmel
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