Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 25: Methodisches

O 25.7: Vortrag

Mittwoch, 29. März 2000, 16:00–16:15, H45

Analyse von SPA-LEED Profilen mit der Maximum Entropy Methode — •Martin Gierer, Alexander Iglesias, Alexander Hirnet und Wolfgang Moritz — Institut für Kristallographie und Angew. Mineralogie d. Universität München, Theresienstr. 41, 80333 München

Die mit einem Spot Profile Analysis LEED (SPA-LEED) gemessenen Reflexprofile enthalten Information über die Fehlordnung an Kristall-oberflächen, z.B. über die Längen von Terrassen, Höhen von Stufen oder Form und Abstand von Inseln. Für den Fall eindimensionaler Fehlordnung lassen sich die Breitenverteilungen der verschiedenen Domänen mit Hilfe der Domänen-Matrix-Methode (DMM) ermitteln [1,2]. Eine direkte Inversion der Profile,um die Breitenverteilungen zu bestimmen, ist allerdings bislang nicht möglich. Um diesem Ziel etwas näher zu kommen, wurde die DMM mit der Maximum Entropy Methode (MEM) kombiniert, bei der die Jaynes-Entropie in einem iterativen Algorithmus maximiert werden soll unter der Nebenbedingung, dass die berechneten und gemessenen Profile übereinstimmen. Mit Hilfe dieser Methode wurden Profile der Ge(113)-(3x2) Phase analysiert, die durch stark fehlgeordnete Zwischengitteratome gebildet wird. Ausserdem wurde das Anfangsstadium des Wachstums von Ge auf Ge(113) durch Profilanalysen charakterisiert.

[1] S.Pflanz, W.Moritz, Acta Cryst. A48,716 (1992)

[2] B. Croset, C.de Beauvais Surf. Sci. 409 (1998) 403.