Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 33: Oxide und Isolatoren (II)

O 33.10: Vortrag

Donnerstag, 30. März 2000, 18:30–18:45, H44

Untersuchung der Al₂O₃/NiAl(110)-Oberfläche mit Röntgen-beugung — •F. Wendler¹, O. Bikondoa², X. Torelles³, H. Isern², G. Castro² und W. Moritz¹ — ¹Inst. f. Kristallographie und Angew. Mineralogie, U. München, Theresienstr. 41, 80333 München — ²CRG SpLine, ESRF, B.P. 220. 38043 Grenoble cedex 09 — ³Inst. de Ciencia Materials de Barcelona, 08193 Bellaterra, Catalunya, Spain

Durch Oxidation der (110)-Fläche eines NiAl Kristalls lässt sich ein nur wenige Atomlagen dicker, gut geordneter Oxidfilm erzeugen, der bisher bei vielen Untersuchungen zur Katalyse an Aluminiumoxidflächen als Modellsystem diente. Die Struktur konnte jedoch bisher noch nicht analysiert werden. Diese Fläche wurde mit Röntgenbeugung bei streifendem Einfall (GIXD) und LEED untersucht. Mit LEED wurde das bisher aus der Literatur bekannte Beugungsbild beobachtet [1], wohingegen mit Röntgenbeugung für diese Reflexe nur sehr schwache Intensität gefunden wurde. Mit wesentlich höherer Intensität wurde eine weitere Struktur beobachtet, mit einer 1-D inkommensurablen Zelle ( a=3.989 Å, b=3.918 Å, γ=73.425^o). Wir interpretieren diese Struktur als vergrabene Zwischenschicht, die sich unter dem Aluminiumoxidfilm bildet. Es konnten 24 Überstrukturstäbe dieser Struktur vermessen werden. Eine Strukturanalyse wird zur Zeit durchgeführt. Aufgrund der niedrigen Intensität war es nicht möglich, die Reflexe der im LEED-Bild zu beobachtenden Struktur mit Röntgenbeugung zu vermessen.

[1] J. Libuda, F. Winkelmann, M. Bäumer, H.-J. Freund, Th. Bertrams, H. Neddermeyer and K. Müller, Surf. Sci. 318 (1994) 61.