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TT: Tiefe Temperaturen
TT 14: Wachstum und Transport in dünnen Filmen
TT 14.4: Vortrag
Mittwoch, 29. März 2000, 15:30–15:45, H19
Sauerstoffdiffusion in verkippten Bi2Sr2CaCu2O8+δ-Schichten — •Th. Zahner1, R. Rössler2, J.D. Pedarnig2, D. Bäuerle2 und H. Lengfellner1 — 1Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Universität Regensburg, D-93040 Regensburg, Germany — 2Institut für Angewandte Physik, Universität Linz, A-4040 Linz, Austria
Dünne (d*0nm), supraleitende (Tc ≈ 85K) Bi2Sr2CaCu2O8+δ-Schichten, deren kristallographische c-Achse mit der makroskopischen Oberflächennormalen einen Kippwinkel α einschließt, wurden durch Pulsed-Laser-Deposition auf off-(001)-axis SrTiO3-Substraten hergestellt [1]. Charakterisierung durch REM, XRD und richtungsabhängige Widerstandsmessung ergab gleichmäßig verkipptes, orientiertes Wachstum für Schichten mit α ≤ 15∘ [2]. Die Dynamik der isothermen Sauerstoffdiffusion in den Schichten (200∘C...400∘C) wurde mittels Leitfähigkeitsmessung untersucht. Die beobachtete Kippwinkelabhängigkeit der Diffusionszeit erlaubt zusammen mit einem Diffusionsmodell eine Abschätzung der Diffusionwege und eine Bestimmung der in-plane Diffusionkonstanten Dab=D0 · exp(−E/kBT) mit D0 ≃ 2 × 10−7 cm2/s und thermischer Aktivierungsenergie E ≃ 0.6 eV.
[1] S.T. Li et al., Appl. Phys. A 63, 427 (1996)
[2] Th. Zahner et al., Physica C 298, 91 (1998) Diese Arbeit wird durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG Le489/6-1) gefördert.