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TT: Tiefe Temperaturen

TT 7: Postersitzung I: Amorphe- und Tunnelsysteme (1-8), Mesoskopische Systeme (9-21), Schwere Fermionen (22-32), Kernmagnetismus (33-34), Josephson-Kontakte und SQUIDs (35-45), TT-Detektoren und Kryotechnik (46-49)

TT 7.45: Poster

Montag, 27. März 2000, 14:30–18:00, A

Kontaktlose Messung hoher elektrischer Leitfähigkeiten am Beispiel von Kupfer-Whiskern — •S. Skwirblies, T. Rossmy und J. Kötzler — Institut für Angewandte Physik und Zentrum für Mikrostrukturforschung, Universität Hamburg

Mit einem kommerziellen SQUID-Magnetometer wurde zwischen 0.1 Hz und 1 kHz die ac-Magnetisierung M von Cu-Whiskern mit sehr geringem Restwiderstand, ρ(0)=0.27 nΩ cm, zwischen 2 K und 50 K gemessen. Im Grenzfall ω A σ / µ₀ ≪ 1 (Probenquerschnitt A=8 · 10³ µ m²) kann aus einem von E. H. Brandt [1] für alle realistischen Probengeometrien berechneten allgemeinen Zusammenhang die Leitfähigkeit σ direkt aus M′ + i M″ bestimmt werden. Die Genauigkeit und Einfachheit dieser Methode wird anhand der Frequenz- und Temperaturabhängigkeit von M demonstriert. Die Ergebnisse bestätigen den starken Einfluß idealer Oberflächenstreuung [2] und der Bloch - Grüneisen Streuung an Phononen.

[1] E. H. Brandt: Phys. Rev. B 50, 13833 (1994)

[2] G. Thummes, J. Kötzler: Phys. Rev. B 31, 2535 (1985)