Bonn 2001 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

T: Teilchenphysik

T 102: Halbleiterdetektoren 1

T 102.5: Vortrag

Montag, 26. März 2001, 17:15–17:30, HS IX

Beamscopes aus Halbleiterdetektoren — •J. Bol¹, V. Bartsch¹, W. de Boer¹, A. Dierlamm¹, M. Doucet², E. Grigoriev¹, F. Hauler¹, O. Herz¹ und M. Koppenhöfer¹ — ¹Universität Karlsruhe (TH), Institut f. exp. Kernphysik, Postfach 6980, 76128 Karlsruhe — ²Desy Hamburg, Notkestr. 85, 22607 Hamburg

Diamant- und auf unter 150K gekühlte Siliziumdetektoren sind sehr strahlungshart. Beide Arten von Detektoren werden als Beamscope für den zukünftigen TESLA-Beschleuniger untersucht. Sie könnten vielleicht die sogenannte Wire-scanner ersetzen, die das Strahlprofil nur durch eine Mittelung über viele Bunche gemittelt bestimmen können. Dagegen ist es mit einem Streifendetektor möglich, das Profil eines einzigen Bunches zu messen. Damit Halbleiter als Beamscope verwendet werden können, muss die Wärme, die am Durchtrittspunkt des Strahls entsteht, abgeleitet werden. Bei der Messung des Strahlprofils soll auch festgestellt werden, wie sich die Halbleiterdetektoren bei hohen Ladungsträgerkonzentrationen verhalten.