Bonn 2001 – scientific programme

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T: Teilchenphysik

T 402: Halbleiterdetektoren 4

T 402.4: Talk

Wednesday, March 28, 2001, 14:45–15:00, HS IX

Pixeldetektoren in CMOS-Technik — •M. Koppenhöfer¹, W. de Boer¹, E. Grigoriev¹, V. Bartsch¹, J. Bol¹, A. Dierlamm¹, F. Hauler¹, O. Herz¹, W. Dulinski², G. Deptuch², U. Goerlach², Yu. Gornushkin², D. Husson², J.L. Riester² und M. Winter² — ¹Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe, Deutschland — ²IReS/LEPSI, Strasbourg, Frankreich

Die CMOS-Technik als Standard in der Halbleiterindustrie erlaubt eine besonders kostengünstige Produktion hochauflösender Pixeldetektoren. Anhand des Prototypen "MIMOSA II"  wird die Verwendbarkeit solcher Detektoren in physikalischen Anwendungen untersucht, insbesondere im Hinblick auf den Einsatz in der Hochenergiephysik. Hierfür wird der Einfluss von starken Magnetfeldern und die Strahlenhärte des Detektors untersucht.