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T: Teilchenphysik

T 502: Halbleiterdetektoren 5

T 502.3: Vortrag

Mittwoch, 28. März 2001, 16:45–17:00, HS IX

CMS-Teststand — •Peter Schorn, Markus Axer, Franz Beissel, Clemens Camps, Volker Commichau, Guenter Fluegge, Claus Hangarter, Dirk Macke, Joachim Mnich, Andreas Nowack, Reiner Schulte und Wolfgang Struczinski — III. Physikalisches Institut B RWTH Aachen, 52056 Aachen

Im Rahmen des CMS-Experiments am zukünftigen Beschleuniger LHC am CERN sollen Silizium-Detektoren zur Spur- und Vertexerkennung im Bereich der zentralen Spurkammer eingesetzt werden. Neben Si-Pixel-Detektoren finden dabei auch Si-Mikrostreifen-Detektoren Verwendung. Vor der Integration aller Subkomponenten in den CMS- Detektor ist es unerlässlich, einen zuverlässigen und langlebigen Einsatz dieser Komponenten sicher zu stellen. Die Elemente sollen hierbei in einem Temperaturintervall von Raumtemperatur bis ca. -15 Grad Celsius getestet werden. Dieser Vortrag behandelt die Konzeptionierung eines Serienteststands und erste Ergebnisse eines Prototyps für Si-Streifendetektoren, vorgesehen für den Vorwärtsbereich der inneren Spurkammer.