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T: Teilchenphysik

T 502: Halbleiterdetektoren 5

T 502.7: Vortrag

Mittwoch, 28. März 2001, 17:45–18:00, HS IX

Silizium-Streifendetektor mit ’on-chip’-Histogrammisierung für Anwendung in einem Compton-Polarimeter — •Hans Krüger, Peter Fischer, Wolfgang Hillert und Kay Stammschroer — Physikalisches Institut, Universität Bonn, Nußallee 12, 53115 Bonn

Es wird ein Detektorsystem vorgestellt, welches mit einem einseitigen Silizium-Streifendetektor und zählenden Auslesechips ein Strahlprofil eindimensional vermessen kann. Es wurde für den Einsatz in einem Compton-Polarimeter entwickelt, bei dem über die Bestimmung des Profils der von dem Elektronenstrahl rückgestreuten Photonen der Polarisationsgrad des Strahls gemessen wird.