T 502: Halbleiterdetektoren 5
Mittwoch, 28. März 2001, 16:15–18:00, HS IX
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16:15 |
T 502.1 |
Technologien des ’elektronic packaging’ und ihre Anwendung für Detektoren der Hochenergiephysik — •Peter Gerlach, Karl-Heinz Becks, Tobias Flick, Christian Grah und Christoph Linder
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16:30 |
T 502.2 |
Pixeldetektor Module in MCM-D Technology — •Ch. Grah, Karl-Heinz Becks, T. Flick, P. Gerlach und Ch. Linder
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16:45 |
T 502.3 |
CMS-Teststand — •Peter Schorn, Markus Axer, Franz Beissel, Clemens Camps, Volker Commichau, Guenter Fluegge, Claus Hangarter, Dirk Macke, Joachim Mnich, Andreas Nowack, Reiner Schulte und Wolfgang Struczinski
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17:00 |
T 502.4 |
Teststationen für CMS-Mikrostreifen-Modules — •Guido Dirkes, Manuel Fahrer, Stefan Heier, Thomas Müller, Thomas Weiler und Siegfried Weseler
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17:15 |
T 502.5 |
Optische und elektrische Qualitätskontrolle von Silizium-Mikro-Streifen-Detektoren — •Christian Piasecki, Tobias Barvich, P. Blüm, F. Hartmann, F. Hauler, K. Kärcher, Th. Müller und H.-J. Simonis
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17:30 |
T 502.6 |
Entwicklungsstudien zum Aufbau eines Detektorkontrollsystems für den ATLAS-Pixeldetektor — •Martin Imhäuser, Karl-Heinz Becks und Susanne Kersten
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17:45 |
T 502.7 |
Silizium-Streifendetektor mit ’on-chip’-Histogrammisierung für Anwendung in einem Compton-Polarimeter — •Hans Krüger, Peter Fischer, Wolfgang Hillert und Kay Stammschroer
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