Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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AM: Magnetismus

AM 15: Mikromagnetismus I (Magnetisierungsprozesse und Dom
änenstrukturen)

AM 15.4: Vortrag

Donnerstag, 29. März 2001, 15:45–16:00, S 5.4

Kalibrierung kommerzieller MFM-Spitzen vom Typ MESP für quantitative magnetkraftmikroskopische Untersuchungen — •Chr. Bürgel, S. Kirsch, A. Carl und E.F. Wassermann — Gerhard-Mercator-Universität Duisburg, Tieftemperaturphysik, 47048 Duisburg

Wir berichten über unsere Fortschitte bei der Kalibrierung von Spitzen für die Magnetkraftmikroskopie (MFM). Die Kalibrierung von kommerziellen MFM-Spitzen des Typs MESP (magnetic etched silicon probe) erfolgt unter Verwendung magnetischer Streufelder mit wohldefinierter Symmetrie, die mit Hilfe elektronenstrahllithographisch hergestellter, 30nm dicker, stromdurchflossener omega-förmiger Flachspulen aus Gold mit Radien zwischen 600nm und 2400nm erzeugt werden, und mit MFM abgebildet werden. Die Analyse des MFM-Kontrastes in Abhängigkeit des Magnetfeldes und der lift-Höhe der Spitze erlaubt im Rahmen einer Punktsondennäherung die quantitative Bestimmung der effektiven magnetischen Momente der Spitze und deren imaginärer Position innerhalb der Spitze. Der Schlüssel zur Kalibrierung der Spitzen ist dabei die Abhängigkeit dieser Größen von der Abklinglänge der z-Komponente des untersuchten Magnetfeldes. Mit systematischen Untersuchungen einer Vielzahl von Spitzen aus unterschiedlichen Herstellungsserien konnten wir die Genauigkeit der Kalibrierung so verbessern, daß nun definierte Aussagen über die Reproduzierbarkeit der Spitzeneigenschaften gemacht werden können. teilweise gefördert durch BMBF (13N6556A)