Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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AM: Magnetismus

AM 15: Mikromagnetismus I (Magnetisierungsprozesse und Dom
änenstrukturen)

AM 15.5: Vortrag

Donnerstag, 29. März 2001, 16:00–16:15, S 5.4

Simulationen zum Magnetkontrast stromdurchflossener Flachspulen zur Charakterisierung von MFM-Spitzen — •L. Lorenz, Chr. Bürgel, A. Carl und E.F. Wassermann — Gerhard-Mercator-Universität Duisburg, Tieftemperaturphysik, 47048 Duisburg

Magnetkraftmikroskopische (MFM) Untersuchungen der Streufeldverteilung von elektronenstrahllithographisch hergestellten stromdurchflossenen omega-förmigen Flachspulen aus Gold mit Radien zwischen 600nm und 2400nm zeigen - gemessen über den Durchmesser der Spulen - eine Asymmetrie des Magnetkontrastes bezüglich der gegenüberliegenden Leiterbahnen. Dies ist eine Folge der Asymmetrie der hier verwendeten MFM-Spitzen vom Typ MESP (magnetic etched silicon probe) aufgrund derer die Spitzen ausser einer z-Komponente auch über eine effektive x-Komponente der Magnetisierung verfügen. Im Rahmen einer Punktsondennäherung für die Spitze, bei der neben der z-Komponente auch eine x-Komponente des magnetischen Dipolmomentes berücksichtigt wird, gelingt mit Simulationsrechnungen eine vollständige Beschreibung des experimentell gemessenen Magnetkontrastes sowie die Bestimmung der x-Komponente und deren imaginärer Position innerhalb der Spitze. Da die x-Komponente des Dipolmomentes gegenüber der z-Komponente etwa um den Faktor 100 kleiner ist, kann sie bei der quantitativen Analyse von MFM-Bildern vernachlässigt werden. Dies wird durch experimentelle MFM-Untersuchungen bestätigt, bei denen die Spitze mit einem externen Magnetfeld in +/- x-Richtung ummagnetisiert wird.