Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
DS: Dünne Schichten
DS 25: Spezielle Schichten III
DS 25.4: Vortrag
Donnerstag, 29. März 2001, 17:00–17:15, S 13/14
IR-Ellipsometrie zur Charakterisierung von anisotropen Polymerschichten — •K. Hinrichs1, E.H. Korte1, A. Röseler1, K. Sahre2 und K.-J. Eichhorn2 — 1Institut für Spektrochemie und angewandte Spektroskopie- Institutsteil Berlin, Albert-Einstein-Str. 9, D-12489 Berlin-Adlershof — 2Institut für Polymerforschung, Hohe Str. 6, D-01062 Dresden
Zur optischen Charakterisierung einer dünnen Polyimidschicht auf Si werden Infrarot (IR)-Ellipsometrie und IR-Transmissionsmessungen im Spektralbereich zwischen 400-4000cm−1 angewendet. Aus hochauflösenden Transmissionsmessungen werden Frequenzen und Halbwertsbreiten von Molekülbanden bestimmt. Mit den ellipsometrischen Messgrößen für drei verschiedene Einfallswinkel ergeben sich durch eine Best-Fit-Rechnung [1,2] in einem anisotropen Schichtmodell, die Schichtdicke (d=1780nm) sowie die optischen Konstanten (n und k) und die Oszillatorstärken der Molekülschwingungen. Die Polyimidschicht zeigt in der Oberflächenebene ein isotropes Verhalten und eine optische Anisotropie in Richtung der Oberflächennormalen (nx=ny=1,78; nz=1,58). [1] J. Humlicek, A. Röseler, Thin Solid Films 234, 332 (1993). [2] M. Schubert, T. E. Tiwald, C. M. Herzinger; Phys. Rev. B 61, 8187 (2000).