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DS: Dünne Schichten

DS 31: Postersitzung

DS 31.40: Poster

Dienstag, 27. März 2001, 16:30–17:30, Foyer Saal 4

Optische Charakterisierung ultradünner Kupferphthalocyaninschichten auf Silber unter Nut-zung von Oberflächenplasmon-Polaritonen — •Raiko Jähnig, Olaf Stenzel und Steffen Wilbrandt — TU-Chemnitz Reichenhainer Str.70 09126 Chemnitz

Durch thermisches Verdampfen unter Hochvakuumbedingung wurden Silberschichten verschiedener Dicke (30-50 nm) hergestellt. Auf die Silberschichten wurden Kupferphthalocyanin(CuPc)-Schichten mit Massenbelegungen zwischen 0,5 und 10 nm aufgebracht. An diesen Zweischichtsystemen wurden winkelabhängige Reflexions- messungen bei verschiedenen Wellenlängen in Prismenkoppler- geometrie durchgeführt. Durch die Anregung von Oberflächen- plasmon-Polaritonen im Grenzflächenbereich sollten auch CuPc-Bedeckungen im Subnanometerbereich detektierbar sein. Die Messwerte wurden mit theoretischen Kurven, die auf der Basis der bulk-optischen Konstanten von CuPc berechnet wurden, verglichen. Erst für CuPc-Schichtdicken unterhalb 2nm konnten signifikante Abweichungen zwischen Theorie und Experiment fest- gestellt werden, die mit weiter sinkender Schichtdicke stärker wurden. Der Effekt lässt sich erklären unter der Annahme, dass die CuPc-Moleküle im unmittelbaren Grenzflächenbereich höhere Absorptionsquerschnitte aufweisen als üblicherweise im Schichtinneren.