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DS: Dünne Schichten
DS 8: Schutzschichten
Montag, 26. März 2001, 17:00–17:45, S 13/14
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17:00 | DS 8.1 | Stöchiometrische Charakterisierung von CNx-Nanoschutzschichten auf Festspeicherplatten mittels X-PEEM — •Ch. Ziethen, R. Ohr, F. Wegelin, H. Hilgers und G. Schönhense |
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17:15 | DS 8.2 | Charakterisierung von ionenstrahldeponierten Borcarbidfilmen für die Beschichtung von AFM-Spitzen — •Oliver Wondratschek, Carsten Ronning, Michael Büttner, and Hans Hofsäß |
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17:30 | DS 8.3 | Darstellung und Charakterisierung von harten TiC/a-C-Verschleißschutzschichten — •Harald Liepack, Albrecht Leonhardt und Karl Bartsch |