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HL: Halbleiterphysik

HL 24: Poster II

HL 24.78: Poster

Donnerstag, 29. März 2001, 10:30–19:00, Rang S\ 3

Untersuchungen der lateralen Inhomogenitäten polykristalliner CdTe-Schichten — •Andreas Thißen, Andreas Klein und Wolfram Jaegermann — TU Darmstadt, Fachbereich Materialwissenschaft-Oberflächenforschung, Petersenstr.23, 64287 Darmstadt

Neben den offensichtlichen Einflußgrößen, die durch Front- und Rückkontakt bedingt werden, scheinen weitere strukturelle und elektronische Faktoren im Absorbermaterial selbst die Effizienz der CdTe-Dünnschicht-Solarzelle zu verändern. Dazu zählen Fragen der Kristallitgröße und -orientierung, sowie die Anzahl und Struktur der Korngrenzen. Insbesondere Pinholes in den Absorberschichten sind der Funktion der Zelle abträglich. Systematische Untersuchungen solcher lateraler Inhomogenitäten im Hinblick auf Unterschiede in ihrer geometrischen und elektronischen Struktur sind daher unabdingbar. Die dazu zur Verfügung stehenden Methoden ermöglichen dabei sowohl eine geometrische (HRSEM, XRD, STM/AFM), als auch eine elektronische (PEEM-Mikrospektroskopie, Scanning Kelvin Microprobe) Charakterisierung inhomogener Oberflächenbereiche. Durch diese Untersuchungen sollen im Fernziel der Effizienz zuträglich Oberflächenstrukturen von destruktiven unterschieden werden, so daß daraufhin die bestehenden Produktionsprozesse optimiert werden können.