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HL: Halbleiterphysik

HL 6: Optische Eigenschaften

HL 6.4: Vortrag

Montag, 26. März 2001, 11:15–11:30, S9/10

Speckle Interferometrie — •C. Nacke¹, H. Stolz¹, S. Eshlaghi², D. Reuter² und A. Wiek² — ¹FB Physik, Universität Rostock, 18051 Rostock — ²Lehrstuhl für angewandte Festkörperphysik, Ruhr-Universität Bochum, 44780 Bochum

Die Eigenschaften der sekundären Emission (SE) exzitonischer Resonanzen in Halbeitern sind seit längerem Gegenstand intensiven Interesses, insbesondere wird die Zerlegung der SE in die kohärente Rayleigh-Streuung und die nicht kohärente Lumineszenz diskutiert.
Wir berichten über richtungsaufgelöste Untersuchungen der Emission von GaAs-Quantenfilmen bei einer Temperatur von 12 K nach resonanter Anregung mit einem schmalbandigen cw Laser.
Durch spektrale Interferometrie kann der kohärente vom nicht kohärenten Anteil der stationären Emission getrennt werden. Es lassen sich Polarisations- und Kohärenzgrad streurichtungsaufgelöst bestimmen.
In der Intensitätsverteilung des kohärenten Anteils finden wir die erwartete exponetielle Speckle-Statistik. Außerdem lassen sich auch in dem nicht kohärenten Anteil Intensitätsflukuationen (Speckle) nachweisen, die einer anderen Intensitätsverteilung gehorchen.