Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 33: Postersitzung

M 33.29: Poster

Donnerstag, 29. März 2001, 15:15–19:00, Foyer S4, CCH

Charakterisierung nanokristalliner, mit Deuterium beladener Ni-Schichten mit Hilfe der Tomographischen Atomsonde (TAP) — •Pyuck-Pa Choi, Talaáat Al-Kassab und Reiner Kirchheim — Universität Gẗtingen, Hospitalstr. 3-7, 37073 Göttingen

Die Mikrostruktur von elektrolytisch abgeschiedenen, nanokristallinen Nickel-Schichten, die mittels Gasvolumetrie mit Deuterium beladen wurden, wurde mit Hilfe der Tomographischen Atomsonde (TAP) charakterisiert. Das TAP erlaubt eine chemisch quantitative, räumlich aufgelöste Analyse von Metallen auf einer Subnanometerskala und eignet sich somit gut für die mikrostrukturelle Charakterisierung von nanokristallinen Materialien.
Färber [1] konnte mit Hilfe des TAP zum ersten Mal direkt die kontinuierliche Segregation von Phosphor in Korngrenzen und Tripelpunkten in nanokristallinen Ni- 3,6 at% P -Legierungen nachweisen. Die hohe thermische Stabilität der Ni-P -Proben konnte durch ein metastabiles Gleichgewicht zwischen der fcc Ni-Phase und einer P-reichen Korngrenzphase und die daraus resultierende verzögerte Bildung der Ni₃P-Gleichgewichtsphase erklärt werden. Ziel der aktuellen Arbeit ist es, die Verteilung des Deuteriums innerhalb der Mikrostruktur zu klären und einen Vergleich zum System Ni-P hinsichtlich des Einflußes des Segreganden auf das Kornwachstum zu erstellen.
[1] Färber, B., Cadel, E., Menand, A., Schmitz, G., Kirchheim, R., Acta Mater., 48 (3), 789-796, 2000