Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 38: Phasenumwandlungen IV

M 38.4: Fachvortrag

Freitag, 30. März 2001, 13:00–13:15, S12

Mechanische Spannungen und Mikrostruktur dünner TiNi - und Ti(Ni,Cu) - Schichten — •H. Harms, U. Geyer und K. Samwer — I. Physikalisches Institut, Bunsenstr. 9, 37073 Göttingen

Amorphe TiNi - und Ti(Ni,Cu) - Schichten wurden durch Elektronenstrahlverdampfen bei verschiedenen Temperaturen kokondensiert. Während des Schichtwachstums wurden mechanische Spannungen mittels einer Zweistrahl - Lichtzeiger - Methode gemessen. In verschiedenen Wachstumsstadien zeigen diese Spannungsmessungen einen klaren Zusammenhang zu der mit dem STM gemessenen Oberflächentopografie.
Durch anschließende Kristallisation entstehen TiNi - und Ti(Ni,Cu) - Formgedächtnisschichten, in denen eine martensitische Transformation Kräfte erzeugt, die für Aktoren genutzt werden können. Während der Transformation kann der Spannungszustand als Funktion der Temperatur verfolgt werden.
Durch definierte Präparation des Ausgangszustandes können Schichten hergestellt werden, deren Transformation nahezu hysteresefrei verläuft. Die Spannungsdifferenz zwischen Austenit - und Martensitzustand entspricht auch bei geringen Schichtdicken (ca. 100nm) der von Volumenproben.