Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 25: Postersitzung (Grenzfl
äche fest-flüssig, Methodisches, Nanostrukturen, Organische Dünnschichten, Rastersondentechniken, reine Oberfl
ächen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Sonstiges)

O 25.52: Poster

Mittwoch, 28. März 2001, 15:00–18:00, Foyer zu B

Subatomare Auflösung mit dem Rasterkraftmikroskop — •Giessibl Franz J., Hembacher Stefan, Bielefeldt Hartmut und Mannhart Jochen — Institut für Physik, EP VI, Universität Augsburg, Universitätsstr. 1, 86135 Augsburg

In den letzten Jahren wurden in der Rasterkraftmikroskopie (RKM) erhebliche Fortschritte erzielt, und „echte“ atomare Auflösung ist heute auf vielen Oberflächen Standard [1]. Eine theoretische Untersuchung des Rauschens im RKM hat gezeigt, dass eine weitere Verbesserung des Auflösungsvermögens möglich ist, und die praktische Umsetzung dieser Erkenntnisse hat zum ersten Mal die Beobachtung innerer Strukturen eines Atoms ermöglicht [2]. Es werden experimentelle Ergebnisse und Modellrechnungen für die Si(111)-(7x7) Oberfläche, basierend auf dem Stillinger-Weber Potential und (111) bzw. (001) orientierten Si Spitzen präsentiert.

Diese Arbeit wurde vom BMBF (Projekt Nummer 13N6918/1) gefördert.

[1] Proceedings NCAFM 1998, Appl. Surf. Sci. 140, 243-456 (1999), Proceedings NCAFM 1999, Appl. Surf. Sci. 157, 207-428 (2000).

[2] F.J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart, Science 289, 422 (2000).