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O: Oberflächenphysik
O 25: Postersitzung (Grenzfl
äche fest-flüssig, Methodisches, Nanostrukturen, Organische Dünnschichten, Rastersondentechniken, reine Oberfl
ächen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Sonstiges)
O 25.52: Poster
Wednesday, March 28, 2001, 15:00–18:00, Foyer zu B
Subatomare Auflösung mit dem Rasterkraftmikroskop — •Giessibl Franz J., Hembacher Stefan, Bielefeldt Hartmut und Mannhart Jochen — Institut für Physik, EP VI, Universität Augsburg, Universitätsstr. 1, 86135 Augsburg
In den letzten Jahren wurden in der Rasterkraftmikroskopie (RKM)
erhebliche Fortschritte erzielt, und „echte“ atomare
Auflösung ist heute
auf vielen Oberflächen Standard [1]. Eine theoretische Untersuchung des
Rauschens im RKM hat gezeigt, dass eine weitere Verbesserung des
Auflösungsvermögens möglich ist, und die praktische Umsetzung dieser
Erkenntnisse hat zum ersten Mal die Beobachtung innerer Strukturen eines
Atoms ermöglicht [2]. Es werden experimentelle Ergebnisse und
Modellrechnungen für die Si(111)-(7x7) Oberfläche, basierend auf dem
Stillinger-Weber Potential und (111) bzw. (001) orientierten Si Spitzen
präsentiert.
Diese Arbeit wurde vom BMBF (Projekt Nummer 13N6918/1) gefördert.
[1] Proceedings NCAFM 1998, Appl. Surf. Sci. 140, 243-456 (1999),
Proceedings NCAFM 1999, Appl. Surf. Sci. 157, 207-428 (2000).
[2] F.J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart, Science 289, 422 (2000).