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O: Oberflächenphysik

O 25: Postersitzung (Grenzfl
äche fest-flüssig, Methodisches, Nanostrukturen, Organische Dünnschichten, Rastersondentechniken, reine Oberfl
ächen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Sonstiges)

O 25.54: Poster

Mittwoch, 28. März 2001, 15:00–18:00, Foyer zu B

LCAO-Modellierung der Si-Spitze Si-Probe-Wechselwirkung in der hochauflösenden noncontact Rasterkraftmikroskopie — •Christian Laschinger, Thilo Kopp, Franz J. Giessibl und Jochen Mannhart — Universität Augsburg, EP 6

In den bisherigen AFM-Messungen mit atomarer Auflösung erscheinen Oberfächenatome als rotationssymmetrische Gebilde. Letztes Jahr hat man zum ersten Mal Substrukturen in diesen Gebilden beobachtet. Dabei wurde die Si(111)-7x7 Oberfläche mit einer Si-Spitze vermessen. Eine Deutung der erlangten Bilddaten beruht einfachen Annahmen über die Spitzengeometrie. Zur Überprüfung dieser Interpretation führten wir LCAO-Rechnungen durch, in denen die Winkelabhängigkeit der Spitze-Probe Wechselwirkung modelliert wird.