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O: Oberflächenphysik

O 25: Postersitzung (Grenzfl
äche fest-flüssig, Methodisches, Nanostrukturen, Organische Dünnschichten, Rastersondentechniken, reine Oberfl
ächen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Sonstiges)

O 25.70: Poster

Mittwoch, 28. März 2001, 15:00–18:00, Foyer zu B

Untersuchungen von Ag–Clustern auf dünnen NaCl–Filmen mittels STM/STS — •K.-L. Jonas¹, W. Ernst², V. Rank¹, H. Pfnür² und K.-H. Meiwes Broer¹ — ¹Fachbereich Physik, Universität Rostock — ²Inst. f. Festkörperphysik, Universität Hannover

Um die in der Gasphase beobachteten elektronischen Eigenschaften von Metallclustern auf Oberflächen messen zu können, ist eine schwache Wechselwirkung zwischen Cluster und Substrat erforderlich. Zu diesem Zweck wurden ultradünne NaCl–Filme auf Ge(001) präpariert. Die Gitterfehlanpassung ist geringer als 1% und führt zum Wachstum defektarmer NaCl–Schichten [1]. Schon 2ML dicke Filme zeigen eine ausgeprägte Bandlücke. Darauf deponierte Ag–Cluster wurden mit Hilfe von Tieftemperatur– STM/STS untersucht.

[1] C. Schwennicke, J. Schimmelpfennig, and H. Pfnür, Surf.Sci. 293 (1993) 57