Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 27: Elektronische Struktur (III)

O 27.6: Vortrag

Donnerstag, 29. März 2001, 11:45–12:00, B

Elektronenmikroskopische Untersuchung des Benetzungsverhaltens von dünnen Übergangsmetall-Filmen auf SrTiO-0.5ex3 — •Klaus van Benthem, Wilfried Sigle, Christina Scheu, Christian Elsässer, Thomas Wagner und Manfred Rühle — MPI für Metallforschung, Seestraße 92, D-70174 Stuttgart

Durch Molekularstrahlepitaxie wurden dünne Cr- und Pd-Filme auf TiO-0.5ex2-terminierten (100)-Oberflächen von SrTiO-0.5ex3 abgeschieden. Das Wachstumsverhalten der Filme wurde mit Hilfe der konventionellen Transmissionselektronenmikroskopie untersucht. Unter hochauflösenden Abbildungsbedingungen konnten abrupte Grenzflächen zwischen Film und Substrat nachgewiesen werden.

Die elektronische Struktur der Metall/Keramik-Grenzflächen wurde in einem dedizierten Rastertransmissionselektronenmikroskop mit hoher lateraler Auflösung anhand der kantennahen Feinstrukturen in Elektronen-Energieverlustspektren (ELNES) untersucht. Durch eine Analyse der Nahkantenfeinstrukturen, deren Intensitäten näherungsweise proportional zu Orts- und Symmetrieprojizierten Zustansdichten (PDOS) des Leitungsbandes sind, können die Bindungsverhältnisse an der Grenzfläche interpretiert werden.

Im Vortrag werden die experimentellen Ergebnisse für die Cr/SrTiO-0.5ex3 Grenzfläche vorgestellt. Außerdem werden erste Ergebnisse zu der Pd/SrTiO-0.5ex3 Grenzfläche diskutiert und mit ab-initio Dichtefunktionalberechnungen der PDOS verglichen.