Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 29: Rastersondentechniken (II)
O 29.9: Vortrag
Donnerstag, 29. März 2001, 12:30–12:45, M
Adhäsionsuntersuchungen an Polybutylenterephthalat mittels Pulsed Force Mode SFM — •Holger Schieferdecker1, Markus Haider2, Arvid Kuhn2, Sabine Hild1 und Othmar Marti1 — 1Universität Ulm, Abt. Experimentelle Physik, 89069 Ulm — 2Wacker-Chemie GmbH, Postfach 1260, 84480 Burghausen
In der Materialforschung ist die Untersuchung von
Oberflächeneigenschaften ein wichtiges Gebiet. Beispielsweise
werden
Oberflächen zur Verbesserung der Haftungseigenschaften mit chemischen
und physikalischen Methoden modifiziert. Die daraus
resultierenden chemischen Veränderungen können makroskopisch
etwa mittels Kontaktwinkelmessungen charakterisiert werden.
Auf mikroskopischer Skala ermöglicht die Rasterkraftmikroskopie
die gleichzeitige Abbildung von Topographie und
Oberflächeneigenschaften.
Vorgestellt werden Messungen an UV-belichtetem
Polybutylenterephthalat. Dabei wurden unbehandelte und mit
unterschiedlichen Zeiten belichtete Proben mit dem
Pulsed Force Mode untersucht, welcher die simultane
Ermittlung von Topographie und lokaler Adhäsion ermöglicht.
Es treten Änderungen sowohl in der Struktur auf als auch in den
Adhäsionseigenschaften der Oberfläche. Weiterhin wurden
Messungen über die zeitliche Veränderung der
Proben nach der Behandlung durchgeführt und
deren Ergebnisse mit den Daten makroskopischer Untersuchungen
verglichen.