O 29: Rastersondentechniken (II)
Donnerstag, 29. März 2001, 10:30–13:15, M
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10:30 |
O 29.1 |
Hochgeschwindigkeits-Rasterkapazitätsspektroskopie an Halbleitermikrostrukturen - Grundprinzip und Simulationen — •J. Isenbart, A. Born und R. Wiesendanger
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10:45 |
O 29.2 |
Hochgeschwindigkeits-Rasterkapazitätsspektroskopie an Halbleitermikrostrukturen - Apparativer Aufbau und Messungen — •M. von Sprekelsen, J. Isenbart und R. Wiesendanger
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11:00 |
O 29.3 |
Der digitale Pulsed Force Mode - ein vielseitiges Instrument zur Bestimmung von Oberflächenparametern mit dem Rasterkraftmikroskop — •Peter Spizig, Detlef Sanchen, Joachim Koenen und Othmar Marti
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11:15 |
O 29.4 |
Dynamische Kraftspektroskopie konservativer und dissipativer Wechselwirkungen eines Al-Au(111) Spitze-Probe Systems — •B. Gotsmann und H. Fuchs
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11:30 |
O 29.5 |
Untersuchung von Oberflächen mit dem Nadelsensor — •M. Vogelgesang, U. Memmert und U. Hartmann
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11:45 |
O 29.6 |
Bruchmechanische Untersuchungen an Nanostrukturen unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops — •Bettina Baumeister, Thomas A. Jung und Ernst Meyer
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12:00 |
O 29.7 |
Messung konservativer und dissipativer Spitzen-Proben-Kräfte in der dynamischen Rasterkraftmikroskopie mittels Frequenzmodulationstechnik — •H. Hölscher, B. Gotsmann, U. D. Schwarz, W. Allers, H. Fuchs und R. Wiesendanger
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12:15 |
O 29.8 |
Obertonmikroskopie: Eine Methode zur Messung der elastischen Eigenschaften auf der Nanometerskala — •Tanja Drobek, Robert W. Stark und Wolfgang M. Heckl
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12:30 |
O 29.9 |
Adhäsionsuntersuchungen an Polybutylenterephthalat mittels Pulsed Force Mode SFM — •Holger Schieferdecker, Markus Haider, Arvid Kuhn, Sabine Hild und Othmar Marti
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12:45 |
O 29.10 |
Nichtkontakt-Rasterkraftmikroskopie auf Übergangsmetalloxiden — •Shenja Langkat, Wolf Allers und Roland Wiesendanger
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13:00 |
O 29.11 |
Lokale anodische Oxidation von Titan- und Niob-Schichten mittels Rasterkraftmikroskopie — •A. Grabowski, C. Stief, U. Memmert, and U. Hartmann
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