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O: Oberflächenphysik
O 3: Rastersondentechniken (I)
O 3.5: Talk
Monday, March 26, 2001, 12:15–12:30, B
Optische Spektroskopie mit sub-nanometer Ortsauflösung — •Germar Hoffmann1, Javier Aizpurua2, Peter Johansson3, Peter Apell4 und Richard Berndt1 — 1IEAP, CAU Kiel, Olshausenstraße 40, 24098 Kiel — 2Euskal Kerriko Unibertsitatea, Spanien — 3University of Lund, Schweden — 4Chalmers University of Technology, Schweden
Die im Rastertunnelmikroskop auftretende Lichtemission auf Metalloberflächen ermöglicht Aufschluß über elektromagnetische Felder (spitzeninduzierte Plasmonen) im nanoskopischen Resonator aus Spitze und Probe. In Messungen bei 4.6 K und im Ultrahochvakuum auf Cu/Ag/Au(111) nutzen wir die atomare Ortsauflösung und die präzise Kontrolle des Abstandes von Spitze und Probe im Tunnelmikroskop aus. Wir beobachten spektrale Änderungen der Lichtemission an atomaren Stufenkanten sowie bei sub-Å Abstandsänderungen. Anhand von neuen Modellrechnungen, die realitätsnahe Spitzenformen beschreiben, analysieren wir Meßdaten mit dem Ziel, den Einfluß atomarer Strukturen zu verstehen.