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O: Oberflächenphysik

O 3: Rastersondentechniken (I)

O 3.6: Vortrag

Montag, 26. März 2001, 12:30–12:45, B

Untersuchung induzierter Defekte an STM-Spitzen mit Hilfe der Atomsonde — •Alexander Fian und Manfred Leisch — Institut für Festkörperphysik, TU-Graz, Petersgasse 16, A-8010 Graz

Während der Abbildung mit dem STM sind häufig Veränderungen im Bildkontrast durch Modifikation der Sondenspitze (Adatome, Wechselwirkung mit der Substratoberfläche) zu beobachten. Diese Veränderungen sind einer direkten Untersuchung im STM nicht unmittelbar zugänglich. Um Modifikationen an Sondenspitze analysieren zu können, ist eine Kombination aus STM und ortsauflösender Atomsonde (Feldionenmikroskop (FIM) mit Flugzeitmassenspektrometer) in einer UHV-Anlage verwendet worden. Zur Charakterisierung der Spitzen vor dem Gebrauch im STM werden diese im FIM zunächst atomar aufgelöst abgebildet. Nach dem Einsatz im STM erfolgt eine chemische Analyse von Adatomen auf der Spitze mit der Atomsonde, induzierte plastische Deformationen werden in anschließenden FIM-Abbildungen untersucht. Bei STM-Abbildungen einer stark gestuften Ni-Oberfläche werden Anhäufungen von Adatomen entsprechend der Scanrichtung auf der Spitze beobachtet. Plastische Deformationen des Spitzenkristallits treten hingegen erst bei Eindringen der Spitze von einigen Nanometern in weiche Substrate wie Gold auf und reichen bis zu 25 Atomlagen in die Tiefe.
*Gefördert durch den FWF, Projekt 12099 NAW