O 3: Rastersondentechniken (I)
Monday, March 26, 2001, 11:15–13:00, B
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11:15 |
O 3.1 |
A new Intermediate Contact Mode for Near-Field Optical Microscopy — •Matthias Wellhöfer and Olaf Hollricher
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11:30 |
O 3.2 |
Optische Nahfeldspektroskopie an Metallclustern mit Weißlichtanregung — •Jan Seidel, Stefan Grafström, Christian Loppacher, Frank Schlaphof, Sven Trogisch und Lukas Eng
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11:45 |
O 3.3 |
Optische Nahfeldmikroskopie mit Farbzentren in Diamant-Nanokristallen — •V. Sandoghdar, S. Kühn, C. Hettich und C. Schmitt
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12:00 |
O 3.4 |
Optische Rasternahfeldmikroskopie unter Flüssigkeiten — •Christiane Höppener, Daniel Molenda, Harald Fuchs und Andreas Naber
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12:15 |
O 3.5 |
Optische Spektroskopie mit sub-nanometer Ortsauflösung — •Germar Hoffmann, Javier Aizpurua, Peter Johansson, Peter Apell und Richard Berndt
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12:30 |
O 3.6 |
Untersuchung induzierter Defekte an STM-Spitzen mit Hilfe der Atomsonde — •Alexander Fian und Manfred Leisch
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12:45 |
O 3.7 |
Adhesion and Wear of Pyrolytic Carbon Layers Investigated by Atomic Force Microscopy — •U. Sutter, A. Pfrang, W. Send, D. Gerthsen, and Th. Schimmel
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