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TT: Tiefe Temperaturen

TT 19: Korngrenzen in HTSL

TT 19.7: Vortrag

Donnerstag, 29. März 2001, 11:00–11:15, H

Rastertunnelspektroskopie an optimal und unterdotierten, dnnen YBCO-Filmen — •Volker Born, Ch. Jooss und H. C. Freyhardt — Institut für Materialphysik, Windausweg 2, 37073 Göttingen

In Hinsicht auf technische Nutzungen von Supraleitern sind Korngrenzen der begrenzende Faktor, der die kritische Stromdichte um mehrere Größenordnungen reduzieren kann. Aus diesem Grund ist das Verständnis ihrer Wirkungsweise wesentlich für die Herstellung surapleitender Filme mit guten Transporteigenschaften. Mannhart und Hilgenkamp [1] schlagen ein Modell vor, das Korngrenzen und ihre nächste Nachbarschaft als ladungsträgerverarmte Zonen beschreibt. Um zu überprüfen, ob mittels Rastertunnelspektroskopie ladungsträger-verarmte Zonen charakterisiert werden können, wurden optimal und unterdotierte dünne YBCO Filme untersucht. Hierzu wurden zunächst Reproduzierbarkeitstests durchgeführt, um sicher zu stellen, daß I-V Spektren als lokale Zustandsdichte der Probe interpretiert werden können. Die I-V Spektren verschieden dotierter Filme zeigen deutliche Unterschiede in der Zustandsdichte, die auf veränderte Sauerstoffgehalte und Ladungsträgerdotierungen zurückgeführt werden.
J. Mannhart, H. Hilgenkamp, Mat. Sci. Engeneering B56(1998) 77-85