Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

TT: Tiefe Temperaturen

TT 25: Postersitzung III: Pinning und Vortexdynamik, Massive HTSL, Bandleiter, Transporteigenschaften in HTSL, SL dünner Filme, Elektronen und Phononen in HTSL, Tunneln, Borkarbide, Quantenphasen und Metall-Isolator-Überg
änge, Anwendungen, Sonstiges

TT 25.70: Poster

Donnerstag, 29. März 2001, 14:30–17:00, Rang S\ 3

Ortsaufgelöste Messung von Mikrowellen–Oberflächenwiderständen dünner HTSL–Schichten bei 20 GHz — •Alexandra Ludsteck¹, Kai Numssen¹, Helmut Kinder¹, Klaus Irgmaier² und Robert Semerad² — ¹Technische Universität München, James–Franck–Straße, 85748 Garching — ²THEVA Dünnschichttechnik GmbH, Hauptstr. 1B, 85386 Eching–Dietersheim

Wir haben eine Methode zur ortsaufgelösten Messung von Mikrowellen–Oberflächenwiderständen dünner Hochtemperatursupraleiter (HTSL)–Schichten entwickelt. Dazu verwenden wir einen Messaufbau, der auf dem Prinzip des Parallelplatten–Resonators beruht. Er besteht aus einem offenen Resonator, der in einer Kühleinheit fixiert ist und einem beweglichen Probenhalter. Im Resonator befindet sich ein HTSL–Film mit bekanntem Oberflächenwiderstand. Die zu messende HTSL–Probe wird über den Resonator bewegt.
Der Scanner arbeitet bei einer Temperatur von 77 K und einer Frequenz von 20 GHz. Die lineare Ortsauflösung beträgt 5 mm.
Eine regelbare Mikrowellen–Kopplung erlaubt es ausserdem, den Mikrowellen–Oberflächenwiderstand als Funktion des anliegenden HF–Magnetfeldes zu messen. Somit lassen sich auch Defekte, die Nichtlineariäten erzeugen, finden.