Leipzig 2002 – scientific programme

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T: Teilchenphysik

T 202: Halbleiterdetektoren II

T 202.6: Talk

Monday, March 18, 2002, 17:30–17:45, HS 22

Tests von Siliziumstreifendetektoren mit Infrarot LEDs — •Th. Weiler, T. Barvich, P. Blüm, G. Dirkes, M. Fahrer, S. Heier, Th. Müller, W. Schwerdtfeger, H.J. Simonis, M. Waldschmitt und S. Weseler — Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe (TH)

Für zukünftige Teilchenphysik-Experimente, wie zum Beispiel CMS, ist es notwendig, eine große Anzahl von Siliziumstreifendetektoren zu testen. Hierzu wurde ein Infrarot LED Testsystem entwickelt, mit dessen Hilfe in kurzer Zeit die Funktionsfähigkeit eines Detektors geprüft werden kann. Der Aufbau des Testsystems, sowie das Ansprechverhalten der Detektoren im Temperaturbereich von −10...+20 ^∘C werden vorgestellt.