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T: Teilchenphysik

T 202: Halbleiterdetektoren II

T 202.7: Vortrag

Montag, 18. März 2002, 17:45–18:00, HS 22

Qualitätssicherung von Silizium-Streifen-Detektoren für die CMS Spurkammern mit dem ARC-System — •Markus Axer, Franz Beißel, Prof. Günter Flügge, Torsten Franke, Can Engin Ilgin, Stefan Kasselmann, Prof. Joachim Mnich, Jan Niehusmann, Michael Pöttgens und Dr. Reiner Schulte — III. Physikalisches Institut B, RWTH Aachen

Im Rahmen des CMS-Experiments am zukünftigen Beschleuniger LHC am CERN sollen Silizium-Detektoren zur Spur- und Vertexerkennung im Bereich der zentralen Spurkammer eingesetzt werden. Neben Si-Pixel-Detektoren finden dabei auch Si-Mikrostreifen-Detektoren Verwendung. Vor der Integration aller Subkomponenten in den CMS-Detektor ist es unerläßlich, einen zuverlässigen und langlebigen Einsatz dieser Komponenten sicherzustellen. Im Rahmen dieser Qualitätssicherung sind Tests der Funktionalität der Frontend-Auslese-Elektronik sowie vollständiger Detektormodule (d.h. Auslese-Elektronik, Si-Streifen-Sensoren, elektrische Verbindungen, Trägerstrukturen) vorgesehen. In Aachen wird ein kompaktes System („ARC“) entwickelt, das alle notwendigen Hard- und Softwarekomponenten bereitstellt, die zum Test der Frontend-Elektronik bzw. eines fertigen Moduls notwendig sind.