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T: Teilchenphysik

T 202: Halbleiterdetektoren II

T 202.8: Vortrag

Montag, 18. März 2002, 18:00–18:15, HS 22

Charakterisierung der ersten TEC-Module für die CMS Spurkammer mit Hilfe des ARC-Systems — •Torsten Franke, Markus Axer, Franz Beissel, Prof. Günter Flügge, Can Engin Ilgin, Stefan Kasselmann, Prof. Joachim Mnich, Jan Niehusmann, Michael Poettgens und Dr. Reiner Schulte — III. Physikalisches Institiut B, RWTH Aachen

Basierend auf dem in Aachen entwickelten Testsystem „ARC“ für Si-Streifen-Detektoren (Modul) der CMS- Spurkammern, sollen in diesem Vortrag erste Meßergebnisse vorgestellt werden, die mit einem Tracker-End-Cap-Modul gewonnen wurden. Die Testmessungen betreffen dabei sowohl die Auslese-Elektronik als auch das gesamte Modul. Tests der Frontend-Elektronik dienen der Kontrolle der Funktionsfähigkeit der verwendeten ASIC Chips, während in einem Modultest die Funktion der Siliziumsensoren in Kombination mit der Auslese-Elektronik überprüft wird. Diese muß auch bei der geplanten Betriebstemperatur von 10 ^∘C gewährleistet sein. Deshalb gehören neben LED-Tests und dem Betrieb unter Hochspannung auch Kühltests zum Meßprogramm.