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T: Teilchenphysik

T 308: Spurkammern III

T 308.3: Vortrag

Dienstag, 19. März 2002, 15:00–15:15, SR 1039/40

Silizium-Alignment-Sensoren für den AMS-02-Tracker — •Volker Vetterle und Wolfgang Wallraff — I. Physikalisches Institut RWTH Aachen

Der Spurdetektor (Tracker) des AMS-02-Experiments (Alpha Magnetic Spectrometer) besteht aus 8 Lagen doppelseitiger Silizium-Streifendetektoren (Nuovo Cim. 112A (1999) 1325). Es werden die beim STS-91-Raumflug erprobten Si-Detektoren sowie die AMS-01-Technik der Reflexionsverminderung verwendet (Proc ICRC 2001,2197). Die Sagitta bei 30 GeV beträgt 1mm ; eine Messgenauigkeit von 25 µm ist die Grundlage der Impulsauflösung. Zur Kontrolle der Stabilität ist der AMS-02-Tracker mit 5 Paaren von Infrarot-Laserstrahlen ausgerüstet. Mit den Laserstrahlen können geradlinige Teilchenspuren simuliert werden. Die Lasersignale (λ=1082 nm) können in den Si-Detektoren in der gleichen Weise wie ionisierende Teilchen nachgewiesen werden. Auf diese Weise können relative Positionsveränderungen im Tracker schnell (≤ 0,1 s) und genau(≤ 4 µm) gemessen werden (Proc Como 2001, J.Vandenhirtz, in print). Durch geeignete Maskenkonstruktion und den Antireflexbelag ist die Transparenz der AMS-02 Si-Sensoren auf 45 % gesteigert.Dies entspricht einer Verbesserung von mehr als dem Faktor 3. Wir berichten über Messungen der optischen Eigenschaften (Transmission,Homogenität) von AMS-02 Silizium-Detektoren.