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DS: Dünne Schichten

DS 27: Postersitzung

DS 27.31: Poster

Dienstag, 12. März 2002, 15:30–17:30, Poster Physik B

Untersuchung der Elektronenemission unter Stromfluß durch eine Ag-Inselschicht mittels Emissionselektronenmikroskopie (EEM) — •A. Gloskovskii, S.A. Nepijko und G. Schönhense — Universität Mainz

Die Beobachtung der Elektronenemission während eines Stromflusses durch tunnelverbundene Metallteilchen[1] ist von großem Interesse für die Emissionselektronik. Die UHV-EEM eignet sich um solche Untersuchungen durchzuführen. Filme mit Silberinseln wurden direkt im UHV auf Glas hergestellt. Die Variation der Substrattemperatur erlaubt es, die Inselgröße zu regulieren. Der Inselabstand konnte mit Hilfe des Widerstands der granularen Schicht kontrolliert werden, welcher während der Beschichtung gemessen wurde. Bei einem Widerstand pro Quadrat R=1MΩ beträgt der Inselabstand 1,5-2 nm. Zur PEEM-Abbildung der Silberinsel-Probe wurde eine Hochdruck-Quecksilberdampflampe verwendet. Dabei zeigte sich, daß das Anlegen einer Spannung an diese Schicht zu einer Änderung des Bildkontrastes führt. Aus dieser Kontraständerung lassen sich Potentialverteilungen an der Inselschicht bestimmen. Bei Erhöhung dieser Spannung kann Elektronenemission beobachtet werden. Dieser Emissionsstrom ist etwa 1-2 Größenordnungen kleiner als der Tunnelstrom durch die Inselschicht. Durch das Austatten des EEM mit einem Gegenfeldanalysator wird es möglich, die Energieverteilungen sowohl der stromflußinduzierten Emissionselektronen als auch der Photoelektronen zu messen und zu vergleichen. (gefördert durch Materialwissenschaftl. Forschungszentrum Mainz)

[1] P.G. Borziak et al., Phys.Stat.Solidi 8(1965)55