DS 2: Elektrische und optische Eigenschaften II
Montag, 11. März 2002, 11:00–12:30, HS 31
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11:00 |
DS 2.1 |
Optisch aktive, kristalline, Selten Erd dotierte Y2O3-PLD-Schichten auf Saphir — •Philipp Burmester, Günter Huber, Malte Kurfiss und Meinhard Schilling
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11:15 |
DS 2.2 |
Elektronische Relaxationseffekte in dünnen In2O3-Filmen — •Annika Lohstroh, Michael Uhrmacher, Klaus-Peter Lieb und H. Wulff
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11:30 |
DS 2.3 |
Dielectric breakdown in AlOx films on Co studied with a scanning tunneling microscope — •S. Czerkas, M. Justus, K. Rott, A. Thomas, H. Brückl, and G. Reiss
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11:45 |
DS 2.4 |
Untersuchungen zur Feldemission an Ionenspuren in Kohlenstoffschichten — •D. Schwen, H. Hofsäß, C. Ronning, A. Weidinger, J. Krauser und C. Trautmann
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12:00 |
DS 2.5 |
Defektespektren in CuInSe2 und CuGaSe2 — •Niklas Rega, Inge Beckers, Jörg Beckmann, Jürgen Albert und Susanne Siebentritt
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12:15 |
DS 2.6 |
Gitterverzerrung als Qualitätsmerkmal für ITO-Schichten — •Dieter Mergel und Zhaohui Qiao
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