DS 6: Strukturbildung und -chararkterisierung II
Montag, 11. März 2002, 11:15–12:15, HS 32
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11:15 |
DS 6.1 |
Struktur und thermische Stabilität von ultradünnen Tantal-Silizium-Stickstoff-Diffusionsbarrieren für die Kupfermetallisierung — •René Hübner, Michael Hecker und Norbert Mattern
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11:30 |
DS 6.2 |
Highly oriented MBE-grown NiTiCu shape memory thin films — •S. Thienhaus, R. Hassdorf, J. Feydt, R. Pascal, M. Boese, A. Sehrbrock, and M. Moske
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11:45 |
DS 6.3 |
Interplay of structure, magnetism and transport properties in Sr doped thin film manganites — •Ulrich Gebhardt, A. Vigliante, G. Carbone, N.V. Kasper, P. Wochner, F. Razavi, Z. Wang, and H.-U. Habermeier
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12:00 |
DS 6.4 |
Untersuchungen zur Lagengüte an TMR-Schichtsystemen — •Michael Binder und Josef Zweck
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